{{{sourceTextContent.title}}}

Radiant presenta un curso corto en la Semana de la Pantalla 2021 con compañeros líderes en pruebas y mediciones de pantallas

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

Aprenda de los expertos en medición de pantallas en el curso corto "Fundamentos de la metrología de pantallas", copresentado por el vicepresidente de desarrollo de productos de Radiant, Jens Jensen, en la Display Week 2021. Participe en el curso en línea a partir del 20 de mayo.

{{{sourceTextContent.description}}}

Radiant Vision Systems, proveedor líder de soluciones de medición y pruebas científicas para la calidad de las pantallas visuales, anuncia que copresentará uno de los cinco cursos cortos en el programa virtual de la Semana de la Pantalla que tendrá lugar del 17 al 21 de mayo de 2021. El curso (Short Course S2) titulado "Fundamentals of Display Metrology" es una presentación técnica de cuatro horas que ofrece una visión general en profundidad de los principios y equipos de medición. El curso es presentado por líderes en el campo de la comprobación de pantallas, incluyendo el Vicepresidente de Desarrollo de Productos de Radiant Vision Systems, Jens Jørgen Jensen, así como el Dr. Reto Häring de Instrument Systems GmbH y Yutaka Maeda de Konica Minolta. El Curso Corto S2 podrá verse en línea a partir del jueves 20 de mayo, desde la plataforma virtual de la conferencia Display Week.

"La importancia de las pantallas es evidente por su omnipresencia en todas las tecnologías e industrias", afirma Jensen. "Las pantallas definen nuestras capacidades de interfaz y experiencias visuales con tantos dispositivos, y gran parte del valor de un dispositivo es su pantalla. Esto ha hecho que el desarrollo y la fabricación de pantallas tengan un alto precio, por lo que la precisión y la eficiencia son fundamentales."

La metrología de pantallas ofrece a los fabricantes una comprensión objetiva de la calidad y el rendimiento a través de los datos, proporcionando herramientas para la evaluación de las pantallas con el fin de salvaguardar la innovación y la inversión en fabricación. Durante el Curso Corto S2, Jensen y los copresentadores presentarán los principios fundamentales y estándar de la metrología de pantallas, cómo se desarrollaron y cómo se aplican para medir las cualidades visuales de las pantallas, que sirven como indicadores del rendimiento de las mismas

"Las diferencias tecnológicas, los procesos de fabricación y otros factores hacen que las cualidades de las pantallas varíen", explica Jensen. "La metrología de las pantallas incorpora métodos y equipos científicos para captar, cuantificar y evaluar estas cualidades en forma de valores de brillo, color, uniformidad y contraste, entre otros. Con estos datos, los fabricantes pueden establecer límites objetivos para estas cualidades y determinar si las variaciones están dentro o fuera de los parámetros de rendimiento requeridos. Como los principios de medición son universales, el rendimiento de las pantallas puede aplicarse de forma equivalente en todos los dispositivos y sectores. Además, los valores y métodos de medición estándar permiten la medición por máquinas, automatizando los procesos de inspección desde el diseño hasta la producción. Los sistemas de medición evolucionan rápidamente para satisfacer las necesidades de nuevos tipos de pantallas e integraciones. Para los profesionales de la industria de las pantallas, es importante comprender los componentes básicos de la metrología, las herramientas disponibles y cuáles son las que ofrecen mayores ventajas para aplicaciones específicas, con el fin de gestionar de forma más eficaz la fabricación de pantallas"

El curso breve "Fundamentos de la metrología de pantallas" abarca una serie de temas, empezando por una introducción a la ciencia de la luz y el color, las unidades de medida y las normas internacionales de medición. Los ponentes describirán las tecnologías que aplican estos principios para la comprobación automatizada de pantallas, incluidos los medidores puntuales, los equipos de imágenes, los medidores de tiempo resuelto y los espectrorradiómetros. Junto con el software, estos equipos se utilizan para cuantificar y evaluar una serie de cualidades de la pantalla, desde la mura hasta la uniformidad de los píxeles y el parpadeo. La presentación incluirá ejemplos de equipos de prueba de pantallas y software actuales y mostrará los últimos sistemas de metrología para evaluar pantallas emergentes, desde microLED hasta dispositivos plegables y de realidad virtual y aumentada. Como el curso se ofrece en línea y bajo demanda, a partir del 20 de mayo los asistentes podrán acceder al curso desde cualquier lugar y en cualquier momento y ver los contenidos del curso a su propio ritmo. Los asistentes también podrán enviar preguntas directamente a los presentadores utilizando la plataforma de la conferencia en línea

El vicepresidente de desarrollo de productos de Radiant Vision Systems, Jens Jørgen Jensen, dirige los equipos de desarrollo de productos responsables del hardware de las cámaras de la empresa, el firmware, el software de los productos, el software de calibración y los dispositivos. Jensen obtuvo un máster en ingeniería mecánica en la Universidad Técnica de Dinamarca. Pasó los siguientes 23 años fabricando sistemas de medición como jefe técnico del laboratorio fotométrico y colorimétrico acreditado por DANAK en Dinamarca, y después se incorporó a Radiant, donde ha contribuido de forma significativa al desarrollo de la ingeniería de la empresa en materia de imágenes y análisis fotométricos y colorimétricos.

Para obtener más información sobre el curso corto S2 "Fundamentos de la metrología de pantallas", disponible el 20 de mayo, o para inscribirse en el programa técnico de la Semana de la Pantalla, del 17 al 21 de mayo, visite www.displayweek.org. Más información sobre Radiant Vision Systems en www.RadiantVisionSystems.com.