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Misurare e correggere l'uniformità dei display MicroLED

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Metodi per misurare la luminanza e la cromaticità subpixel per la correzione (Demura) e il controllo di qualità

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I microLED continuano a dimostrare i vantaggi in termini di prestazioni per i display, inaugurando una nuova generazione di tecnologia di illuminazione retroilluminata e a visione diretta. Questi elementi emissivi inorganici offrono molti vantaggi rispetto ad altre tecnologie di visualizzazione, tra cui alta luminosità e contrasto, ampia gamma di colori, longevità e alta densità di pixel. Tuttavia, le sfide associate alla fabbricazione di pannelli microLED di alta qualità devono essere affrontate prima che la produzione di massa e la commercializzazione possano essere realizzate

Come singoli elementi emissivi, i microLED presentano comunemente variazioni di luminanza e colore a livello di pixel. Queste variazioni richiedono che ogni microLED sia misurato e regolato individualmente per assicurare l'uniformità visiva attraverso il display. Quindi, un sistema di misurazione e correzione per la produzione di microLED deve essere in grado di quantificare con precisione l'uscita di ogni elemento emissivo (il singolo LED o subpixel), con tempi di lavorazione molto bassi per correggere l'elevata quantità di emettitori in un singolo display e per sostenere processi di produzione a basso spreco e ad alto volume